TD-LTE產(chǎn)業(yè)鏈需求低成本測試儀表

時間:2010-05-26

來源:網(wǎng)絡轉載

導語:盡管TD-LTE整體產(chǎn)業(yè)鏈相對FDDLTE發(fā)展較慢,但是用于TD-LTE測試的儀表比以往有了很大的改善,已經(jīng)能夠與設備研發(fā)的步調相匹配。

    盡管TD-LTE整體產(chǎn)業(yè)鏈相對FDDLTE發(fā)展較慢,但是用于TD-LTE測試的儀表比以往有了很大的改善,已經(jīng)能夠與設備研發(fā)的步調相匹配。

  在網(wǎng)絡協(xié)議測試方面,由于TD-LTE測試標準仍未最后定稿,所以各廠商仍積極跟蹤TD-LTE標準,不斷更新其產(chǎn)品,以R&S為代表,其協(xié)議測試儀CMW500,可以提供的頻率高達6GHz,帶寬為40MHz,可以用于一致性測試,性能測試和互操作測試。

  網(wǎng)絡測試無論對TDD還是FDD都是一個挑戰(zhàn),在原GSM和UMTS等現(xiàn)有技術中,涉及網(wǎng)絡接入,包括擁塞、干擾和覆蓋問題等一大部分可觀的信息都在有線網(wǎng)絡接口上提供,通過使用傳統(tǒng)工具,就能夠得出測試結果,而在LTE中,情況發(fā)生了變化,因為網(wǎng)絡接入節(jié)點設計得更加智能,接入網(wǎng)絡控制功能直接轉移到了eNodeB的網(wǎng)絡邊緣上。網(wǎng)絡接入部分和核心部分間的有線接口不再提供關鍵的無線性能信息,無法確定存在哪些問題。這意味著廠商和運營商被迫要直接查看空中接口,以獲得與網(wǎng)絡接入性能和服務質量有關的信息,另外還必須能夠把這種分析簡便地與其他網(wǎng)絡接口的數(shù)據(jù)關聯(lián)起來。

  信號源、信號分析儀表很多時候被劃分為基礎通用儀表,之前的測試廠商的水平已經(jīng)研發(fā)出具有競爭力的產(chǎn)品,不存在難點。

  下一步,一方面測試廠商需要緊跟TD-LTE標準的確立,盡快推出TD-LTE協(xié)議測試儀表,另一方面需要從終端測試產(chǎn)品入手,盡快推出成本低的產(chǎn)業(yè)化儀表。

  隨著TDD受到的關注加大可以預見將會有更多的測試廠商參與到TD-LTE測試儀表的研發(fā),前景好于預期。

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